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郵箱: mamie_chm@126.com
地址: 青島市膠州市上合示范區閩江路60號
設備名稱(chēng) 膜厚儀 品牌型號ST2000-DLXn
設備用途
測量氧化硅、氮化硅等材料的薄膜厚度
主要技術(shù)指標:
測量尺寸:≤ 4inch
測量范圍: 20nm -5000nm
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青島翼晨鐳碩科技有限公司